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材料现代分析测试技术（安徽理工大学版）
《材料现代分析技术》补考
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TEM电子衍射的基本公式是Rλ=dL。（ ）
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SEM收集二次电子时，可以在收集器前端栅网上加上+250V的偏压，提高二次电子的收集效率。（ ）
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DSC是差热分析，DTA是差式扫描量热分析。（ ）
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SEM中，二次电子像（SE像）和背散射电子像（BE像）都可以利用信号的做表面形貌衬度分析。（ ）
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倒易矢量代表对应正空间中的晶面。（ ）
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衍射强度实际是大量原子散射强度昀叠加。（ ）
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X射线的强度，总是与管电流成正比。( )
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满足布拉格方程必然发生X射线衍射。（ ）
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SEM具有高分辨率，样品制备简单，景深小的特点。（ ）
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SEM中，二次电子产额随着入射束与试样表面法线夹角增大而增大。（ ）
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粉末样品不存在择优取向即织构问题
材料现代分析测试技术（安徽理工大学版）
章节列表
第一章测试
3
第二章测试
6
第三章测试
6
第四章测试
6
第五章测试
6
第六章测试
6
第七章测试
5
《材料现代分析技术》补考
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